回路電阻測(cè)試儀原理

 回路電阻測(cè)試儀原理

高精度回路電阻測(cè)試儀是電力系統(tǒng)、廠礦常用的測(cè)試儀器，目前斷路器直阻測(cè)試都是采用典型的四線制測(cè)量法，在現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)時(shí)會(huì)由于電壓測(cè)試線接觸不良，出現(xiàn)錯(cuò)誤判斷甚至不能進(jìn)行測(cè)試的問(wèn)題。本文提出在電壓測(cè)試線兩端加一個(gè)小電流恒流源，用來(lái)判斷電壓測(cè)試線接觸是否良好，在電壓測(cè)試線接觸不良時(shí)，儀器能夠及時(shí)準(zhǔn)確提示，使得測(cè)試儀器測(cè)出的數(shù)值真實(shí)準(zhǔn)確，節(jié)約測(cè)試時(shí)間，可提高工作效率，避免錯(cuò)誤判斷的問(wèn)題。

    從高精度回路電阻測(cè)試儀的發(fā)展角度看，以前普遍采用常規(guī)的QJ44型雙臂直流電橋測(cè)量變壓器線圈的直流電阻、高壓斷路器的接觸電阻，而這類(lèi)電橋的測(cè)試電流僅為m*，難以發(fā)現(xiàn)變壓器線圈導(dǎo)電回路導(dǎo)體截面積減少的缺陷。在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受到接觸面和動(dòng)靜觸頭間氧化層的影響，測(cè)量偏差大，掩蓋了真實(shí)的接觸電阻值。因此，目前國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)規(guī)定對(duì)斷路器、隔離開(kāi)關(guān)接觸電阻的測(cè)量電流不小于直流100A。100A或更大的直流電流，根據(jù)產(chǎn)生的壓降來(lái)計(jì)算斷路器導(dǎo)電回路的直阻值，從而判斷斷路器導(dǎo)電回路是否存在接觸不良等隱患。

    目前現(xiàn)場(chǎng)試驗(yàn)使用的高精度回路電阻測(cè)試儀原理是采用典型的四線制測(cè)量法，由高頻開(kāi)關(guān)電源產(chǎn)生大于100A的直流測(cè)試電流，加在被試品兩端，測(cè)量出電流流過(guò)被測(cè)體產(chǎn)生的壓降，采樣電路同時(shí)對(duì)電壓輸入端和內(nèi)部電流分流器電壓進(jìn)行采樣，取得的信號(hào)經(jīng)放大器放大，由A/D轉(zhuǎn)換器將模擬信號(hào)轉(zhuǎn)換成數(shù)字信號(hào)后，再經(jīng)微處理器對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行濾波、運(yùn)算、處理，通過(guò)計(jì)算電壓值和電流值之比得出被測(cè)體的直流電阻值，zui后送顯示器顯示出此次測(cè)量的電流和電阻值。并可以在當(dāng)電流測(cè)試回路出現(xiàn)斷線或接觸不良時(shí)，儀器會(huì)根據(jù)電流分流器上的電壓判斷出電流回路接觸不良或開(kāi)路。

電壓回路接觸不良

    大多數(shù)情況下斷路器的接線端子在長(zhǎng)期運(yùn)行后端子排外表面會(huì)產(chǎn)生氧化膜或油膜，當(dāng)高精度回路電阻測(cè)試儀的電壓測(cè)試鉗夾接到這樣的端子排上時(shí)就可能產(chǎn)生接觸不良，既電壓測(cè)試線鉗夾本身也要產(chǎn)生一定的接觸電阻，該接觸電阻值達(dá)到與電壓采樣回路的內(nèi)阻值相當(dāng)時(shí)，將對(duì)測(cè)試結(jié)果產(chǎn)生嚴(yán)重影響。